회사소개
(주)어코랩은 1998년 설립되어 초음파 검사장비 전문 벤처기업으로서 세계 최고 수준의
초음파 C-Scan System, 반도체 검사용 초음파 현미경(Scanning Acoustic Microscope,SAM),
Ultrasonic Phased Array System, 용접부 검사용 TOF(Time of Flight Diffraction) System 등
다양한 종류의 산업용 초음파 검사시스템을 개발, 제작하고 있는 기업입니다.
오랜 경험과 축적된 Know-how를 갖춘 저희 R&D인력은 연구용 장비에서부터 생산라인용 전자동 검사시스템까지
고객의 요구에 맞추어 초음파 장치를 개발, 제작하고 있습니다.
(주)어코랩은 검사 시스템의 개발 및 제작 뿐만 아니라 초음파를 이용한 비파괴 검사와 관련된 종합적인 솔루션을
제공하여 고객의 제품품질을 향상 시켜 생산성 증대 및 원가 절감에 도움을 드리고자 합니다.
항상 세계 최고의 기술과 품질로 고객 만족에 노력하겠습니다.
(주) 어코랩 임직원 일동
Product
SAM-DENEB
• 기본 표준형 SAM 장비
• 표면 및 내부 결함, 크기, 위치 측정
• 최대 1000mm/s 고속 스캔 지원
• 검사 영역 : 350mm*150mm
• 적용 분야 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB
SAM-VEGA
• 기본 표준형 SAM 장비
• 표면 및 내부 결함, 크기, 위치 측정
• 최대 1000mm/s 고속 스캔 지원
• 자동 로딩 및 언로딩 장치
• 검사 영역 : 330mm*150mm
• 적용 분야 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB
SAM-MINI
• 컴팩트형 초음파 현미경
• 반도체 패키지 내부 결함 검사
• 최대 750mm/s 고속 스캔 지원
• 최소 0.5um 이동 스텝
• 검사 영역 : 320mm*180mm
SAM-SPICA
• 중형 초음파 현미경
• 일반 검사체 내부 결함 검사
• 최대 1000mm/s 고속 스캔 지원
• 최소 0.5um 이동 스텝
• 검사 영역(Max) : 750mm*750mm
SAM-ATHLON
• 대형 초음파 현미경
• 일반 검사체 내부 결함 검사
• 최대 1200mm/s 고속 스캔 지원
• 검사 영역(Max) : 4000mm*2500mm
• 적용 분야 : 대형 평판 및 원형 LCD/PDP, ITO Target 등의 결함측 등
SAM-TITAN
• 중형 초음파 현미경
• 일반 검사체 내부 결함 검사
• 최대 1000mm/s 고속 스캔 지원
• Water Tank Up/Down Support
• 검사 영역(Max) : 750mm*750mm
• 적용 분야 : 반도체, PCB, 소재 등
SAM-CYGNUS
• Wafer Auto Inspection
• Wafer Map, 바코드리더, Wafer Pre Aligner, Spin Coater
• 워터젯 방식의 물 분사 시스템
• 검사 영역(Max) : 4"~6" Wafer
• 적용 분야 : Wafer
SAM-ITS
• 산업용 초음파 현미경
• 철강 및 비철금속 주조품, 단조품, 용접부 결함 검출
• Immersion Tank System
• 검사 영역 : 침수 탱크 사이즈 및 전체 프레임 사이즈 맞춤형
• 적용 분야 : ITO Target, STEEL, TUBE, BAR, 복합소재, 피스톤검사, 도금결함판별, 자동차엔진 등의 결함 검출
Pulser&Receiver
• BandWidth : 1~150Mhz
Application
Customer
납품처 리스트



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